超聲波掃描顯微鏡（ 陳136委414清43960，掃描頻率最高可以達(dá)到２Ｇ）．掃描分辨率0.1微米.最小掃描范圍為0.25mm*0.25mm. 是一種非破壞性的 檢測(cè)組件的完整性，內(nèi)部結(jié)構(gòu)和材料的內(nèi)部情況的儀器，作為無損檢測(cè)分析中的一種，它可以實(shí)現(xiàn)在不破壞物料電氣性能和保持結(jié)構(gòu)完整性的前提下對(duì)物料進(jìn)行檢 測(cè)。
被廣泛的用在物料檢驗(yàn)(IQC)、失效分析(FA)、質(zhì)量控制(QC)、質(zhì)量保證及可靠性(QA/REL)、研發(fā)(R&D))等領(lǐng)域。
其可以 檢查到:１.材料內(nèi)部的晶格結(jié)構(gòu)，雜質(zhì)顆粒．夾雜物．沉淀物．2. 內(nèi)部裂紋. 3.分層缺陷.4.空洞,氣泡,空隙等。 在一個(gè)較小尺寸的范圍內(nèi)，超聲波會(huì)由于材料的物理特性發(fā)生相互作用。一旦材料的特性發(fā)生變化，樣品內(nèi)部的超聲波就會(huì)被吸收、散射和反射。因?yàn)槌暡o法很 好通過空氣進(jìn)行傳播，所以樣品內(nèi)的微小縫隙會(huì)被很容易的檢測(cè)到。利用超聲波的這種特性，可以把半導(dǎo)體材料內(nèi)部的諸如分層，裂縫等的缺陷和不透光材料中的空 隙等缺陷，成像在高分辨率的圖像上，給材料的可靠性分析帶來方便。
聲學(xué)掃描顯微鏡是一種非破壞性的檢測(cè)組件的完整性，內(nèi)部結(jié)構(gòu)和材料的內(nèi)部情況的儀器，作為無損檢測(cè)分析中的一種，它可以實(shí)現(xiàn)在不破壞物料電氣能和保持結(jié)構(gòu)完整性的前提下對(duì)物料進(jìn)行檢測(cè)。被廣泛的應(yīng)用在物料檢測(cè)（IQC）、失效分析（FA）、質(zhì)量控制(QC)、質(zhì)量保證及可靠性(QA/REL)、研發(fā)(R&D)等領(lǐng)域。
其可以檢測(cè)：1.材料內(nèi)部的晶格結(jié)構(gòu)，雜質(zhì)顆粒; 2.內(nèi)部裂紋; 3.分層缺陷; 4.空洞、氣泡、空隙等等
在聲學(xué)顯微成像（AMI: Acoustic Micro Imaging）技術(shù)應(yīng)用于內(nèi)部品質(zhì)無損檢測(cè)與分析方面，Sonoscan一直是該行業(yè)的權(quán)威之一。Sonoscan系統(tǒng)被視為精確基準(zhǔn)，通過我們的SonoLab?部門，您可以向我們的聲學(xué)應(yīng)用工程師進(jìn)行咨詢，獲取專業(yè)意見和指導(dǎo)。Sonoscan致力于通過教育項(xiàng)目、客戶應(yīng)用程序評(píng)估與新系統(tǒng)開發(fā)來實(shí)現(xiàn)AMI技術(shù)的持續(xù)改進(jìn)。
對(duì)AMI技術(shù)的專業(yè)研究是Sonoscan工作的核心。我們努力提供非凡的數(shù)據(jù)精確性、出眾的圖像質(zhì)量和世界領(lǐng)先的技術(shù)。我們?cè)贏MI技術(shù)方面還擁有多項(xiàng)美國(guó)和外國(guó)專利。總之，Sonoscan是您最值得信任的伙伴，我們可以為您節(jié)省成本并提高效率。
Sonoscan C-SAM D9500是一種新型AMI標(biāo)準(zhǔn)儀器，可以提供出眾的精確度和穩(wěn)定性，適合破損分析、工藝開發(fā)以及材料分析與表征。
超聲波探頭頻率：5M到400M
超聲波掃描模式：A-Scan(某點(diǎn)掃描)、B-Scan(塊掃描)、C-Scan(層掃描)、Multi-Scan(多層掃描)、Q-BAM(虛擬橫截面)、T-Scan (穿透式掃描)、3-V(3維圖像)、Tray-Scan(盤掃描)
最大掃描范圍：12.9X12.4英寸
最大分辨率：8192X8192
選擇的聲波寬度：0.25納秒到1微秒
Z軸分辨率：80納米
點(diǎn)擊圖片查看原圖
