錫須幾乎成了電子產(chǎn)品缺陷的罪魁禍?zhǔn)祝�錫須生長可謂是防不勝防，但是布朗大學(xué)的研究人員表示他們已經(jīng)找到了致使錫須生長的根本原因。布朗大學(xué)的工程學(xué)教授Eric Chason博士將在第七屆錫須會議國際會議上揭曉他對錫須研究的這一重大成果。國際錫須會議由IPC和CALCE聯(lián)合于11月12-13日在加利福尼亞州科斯塔梅薩舉辦。

Chason說：“我確信金屬化合物之間的應(yīng)力是錫須形成的根本原因。”為了證明他的這個說法，他將在《熱循環(huán)過程中錫銅系統(tǒng)晶須形成的實(shí)時研究》演講中，發(fā)布有關(guān)此系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)的相關(guān)信息。

錫須會議將首先由洛克希德馬丁公司負(fù)責(zé)任務(wù)達(dá)成的副總裁John Kowalchik帶來的關(guān)于航天工業(yè)要求的主題演講——《航天：難以忍受的邊界》拉開序幕。其他專題演講包括：《大型國防OEM的錫須風(fēng)險緩解—過去、現(xiàn)在與未來》，演講者為雷神公司的David Pinsky博士；《敷形涂覆材料及其應(yīng)用：行業(yè)評估狀態(tài)》，演講者為羅克韋爾柯林斯公司的Dave Hillman；《腐蝕誘發(fā)的錫須對鍍錫的影響》，演講者為博世公司的Pierre Eckold。

第7屆錫須國際會議之后，IPC焊料與可靠性會議將于11月13日中午到11月14日舉行。這些系列性活動將為業(yè)界同仁提供一個與眾多行業(yè)專家交流并獲悉可靠性問題的全面動態(tài)的絕佳機(jī)會。

登陸www.ipc.org/tin-whiskers，查詢第七屆錫須國際會議日程或在線報名。